Testlösungen für NAND-Flash-Bauteile

14. Juli 2011 - Advantest Corporation stellt zwei neue Lösungen für den Test von NAND-Flash-Speicherbauteilen der nächsten Generation vor: das T5773 für den Test von Bauteilen im Gehäuse und das auf der Harmonic Architektur basierende HA5100CELL für den Wafertest. Die Tools bieten eine umfassende Unterstützung für den Test von schnellen NAND-FLASH-Speicherbauteilen der nächsten Generation mit hoher Kapazität und vom Frontend bis zum Backend.

Das Marktforschungsunternehmen IHS iSuppli erwartet für den weltweiten NAND-Markt in 2011 ein Wachstum von rund 18 %. Zudem werden auch die Kapazität und die Geschwindigkeit der NAND-Flash-Speicher zunehmen. Die durchschnittliche Datenübertragungsgeschwindigkeit hat sich mittlerweile auf 400Mbps verzehnfacht. Diese technologischen Innovationen haben zusammen mit der starken Verbreitung der Endprodukte ein explosives Bit-Wachstum sowie eine Steigerung der Produktionsmengen zur Folge, und verstärken außerdem den Trend hin zu längeren Bauteiltestzeiten. Da die Bauteil-Geschwindigkeiten weiter steigen werden, benötigen die NAND-Hersteller künftig Testsysteme, welche nicht nur eine Senkung der Testkosten ermöglichen, sondern auch die hohe Arbeitsfrequenz der ONFI3-Schnittstellen unterstützen. Die NAND-Flash-Speichertestlösungen der nächsten Generation von Advantest erfüllen diese Anforderungen durch eine bahnbrechende Technologie, die eine beispiellose Reduzierung der Testzeit und Testkosten ermöglicht.

Frontend-NAND-Flash- Testlösung mit höchster paralleler Testkapazität: HA5100CELL

Die Harmonic Architektur (HA) ist eine neue, innovative Plattform von Advantest: eine All-in-One-Wafer-Testlösung, die einen Tester und Prober, sowie vier Testzellen in einem einzigen Tool kombiniert. Da vier Wafer auf einmal getestet werden können, ist das HA5100CELL ein dedizierter NAND-Flash-Speichertester, der gegenüber bisherigen Systemen nur ein Viertel der Grundfläche benötigt. Das System bietet eine Arbeitsfrequenz von 100MHz und eine maximale parallele Testkapazität von 6.144 DUTs. Diese Innovation ermöglicht gegenüber bisherigen Testzellen eine Einsparung von 50 % der Testkosten. Das HA5100CELL nutzt eine von Advantest entwickelte Kontaktkonformitätstechnologie, die einen Test großer Stückzahlen mit einer einzigen Kontaktierung ermöglicht. Mit dem HA5100ES ist auch ein Engineering System für die Bauteil-Evaluierung in der Forschung und Entwicklung verfügbar.

Backend-NAND-Flash-Testlösung mit niedrigsten Testkosten: T5773

Das T5773 von Advantest ist ein Testsystem für NAND-Flash-Speicher im Gehäuse, das sehr schnelle Schnittstellen für SSDs, Endgeräte und andere Anwendungen unterstützt. Es erfüllt damit die Testanforderungen von Bauteiltypen, die gegenüber bisherigen Typen die vierfache Testgeschwindigkeit erfordern. Das T5773 bietet eine Arbeitsfrequenz von 200MHz / 400Mbps und eine typische parallele Testkapazität von 768 DUTs. Zusätzlich gewährleistet das innovative Design des T5773 deutliche Einsparungen beim Energieverbrauch und dem Platzbedarf, so dass die Testkosten drastisch gesenkt werden können. Mit dem T5773ES bietet Advantest auch ein Engineering System für den Einsatz in der Forschung und Entwicklung an.