News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Testlösung für schnelle Schnittstellen in Halbleiter-Bauteilen

18. November 2010 - Advantest Europe GmbH stellt für sein führendes SoC-Testsystem T2000 eine neue Lösung zum Test schneller Schnittstellen vor. Die neue Testlösung basiert auf dem von Agilent Technologies entwickelten N6010A Serial Port Parametric Testmodul und ermöglicht Messungen mit Geschwindigkeiten bis zu 12,5Gbps.

Neuere Schnittstellen, wie PCI Express, Gen3 und Ethernet, arbeiten mit sehr viel höheren Datenübertragungsraten als bisherige Architekturen. Effiziente Testlösungen für diese schnellen Schnittstellen werden dadurch immer wichtiger. Das flexible, konfigurierbare Testsystem T2000 von Advantest bietet in Verbindung mit dem N6010A Serial Port Parametric Testmodul von Agilent eine umfassende Funktionalität und vielfältige „Tools" für eine sehr genaue, simultane Prüfung und Charakterisierung mehrerer Kanäle mit Datenraten bis zu 12,5Gbps.

Bislang erfolgte die Evaluierung von schnellen Schnittstellen meist mit Hilfe von Messinstrumenten wie Oszilloskopen und BERT-Testern (BERT - Bit Error Rate Tester). Der Trend hin zu Datenraten im Gigabit-Bereich, Architekturen mit mehreren Kanälen und die immer höhere Integration bei SoC-Bauteilen stellen eine große Herausforderung für die Messtechnik dar. Die neue Testlösung von Advantest für schnelle Schnittstellen kombiniert das bewährte und leistungsfähige Testsystem T2000 mit dem N6010A Modul von Agilent und ermöglicht damit einen parallelen Test mehrerer Kanäle mit hoher Geschwindigkeit. Durch die synchronen Testmöglichkeiten, wie bei den T2000-Modulen von Advantest, wird zudem ein erstklassiger Durchsatz erreicht. Die neue Lösung erleichtert damit die Evaluierung auf Systemebene von komplexen SoC-Bauteilen mit integrierten schnellen Schnittstellen.

www.agilent.com

www.advantest.de

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