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Bauteil-/Halbleiter-Test

Integrierte Testzelle für MEMS-basierte Reifendruck-Sensoren

21. Mai 2014 - Advantest hat eine voll integrierte Testzelle für die Endprüfung von MEMS-basierten Sensoren installiert. Diese Sensoren gehören zu Reifendruck-Überwachungssystemen (TPMS) für den schnell wachsenden Automobilmarkt in China. Die Testzelle wurde qualifiziert und wird inzwischen in der Serienproduktion am Standort des Kunden sowie zusätzlich bei einem OSAT-Partner (Outsourced Semiconductor Assembly and Test) eingesetzt.

"Auf dem schnell wachsenden Markt für MEMS-Sensoren gibt es einen Trend hin zu einer höheren Integration von Gerätefunktionen", sagt Jürgen Serrer, General Manager und Vice President der V93000 Power-Analog-Control (PAC) Solutions Group von Advantest Corporation. ”Diese 'Sensorfusion' erfordert kostengünstige Testlösungen, die im Hinblick auf wachsende Stückzahlen eine hohe Flexibilität gewährleisten. Unsere integrierte Testzelle, mit dem skalierbaren V93000 im Mittelpunkt, erfüllt diese kritische Anforderung."

Die Testzelle integriert den Advantest V93000 Smart Scale Tester mit einer universellen Pin Scale 1600 Digitalkarte und einem kompakten A-Class Testhead mit bis zu 1.024 Pins für einen hocheffizienten Parallel-Test. Ein Handler mit hohem Durchsatz und Druck-Stimulus-Tools von weiteren Anbietern wurde ebenfalls in die Testzelle eingebunden. Durch diese kombinierten Fähigkeiten erfüllt diese Testzelle alle Testanforderungen für MEMS-Sensorbauelemente, ohne dass Ressourcen umgeschaltet werden müssen. Dadurch lässt sich ein hoher Durchsatz erreichen.

Das System kann digitale I/O-Protokolle mit Geschwindigkeiten von bis zu 1,6 Gbps, nicht-flüchtige Speicher wie eFlash, A/D- und D/A-Wandler und Hochfrequenz-UHF-Sender im Frequenzbereich von 315 MHz bis 433 MHz prüfen.

Die SmarTest Software von Advantest erhöht die Effizienz der Testzelle in der Entwicklung und im Betrieb. Neben der Unterstützung mehrerer Handler innerhalb einer Zelle, wird eine einfache Skalierbarkeit für künftige Erweiterungen sichergestellt. Zudem erlaubt SmarTest einen Zugriff auf eine umfassende Sensor-Testbibliothek, was die Testprogramm-Entwicklung vereinfacht und beschleunigt.

Die V93000 Smart Scale Plattform kombiniert digitale und analoge Testfunktionen und reduziert die Testkosten durch die sehr hohe Leistungsfähigkeit bei parallelen Tests. Zudem ist dies die erste Testlösung, die eine volle Testabdeckung beim Wafertest erreicht. Es sind verschiedene Optionen verfügbar, wie beispielsweise eine A-Class-Konfiguration mit dem kleinsten Testhead von Advantest. Damit lassen sich sowohl die Baugröße als auch der Stromverbrauch minimieren und somit besonders wirtschaftliche Betriebskosten erreichen.

Durch einen Per-Pin-Test mit einer hohen Multi-Site-Effizienz ist die Pin Scale 1600 Digitalkarte die derzeit am besten skalierbare Pin-Karte auf dem Markt. Mit Datenübertragungsraten von DC bis 1,6 Gbps und einer doppelten oder sogar vierfachen Dichte im Vergleich zu bisherigen Pin-Karten bietet diese kompakte Karte eine volle Testabdeckung bei symmetrischen High-Speed-Schnittstellen und ermöglicht einen Systemtest mit realistischem Stress.

www.advantest.de/



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