Diese Website nutzt Cookies, um gewisse Funktionen gewährleisten zu können. Durch die Nutzung der Website stimmen Sie unseren Datenschutz-Richtlinien zu.
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service.  

Newsletter abonnieren

Alle 14 Tage alle News im Überblick
captcha 
Bitte geben Sie auch den angezeigten Sicherheitscode ein.

Bauteil-/Halbleiter-Test

Flexible SSD-Testlösung für Entwicklung und Produktion

29. Juli 2014 - Advantest hat mit dem System MPT3000 das erste Produkt seiner NEO-SSD-Familie für den Test von modernen Halbleiter-Festplatten (SSD - Solid State Disk) vorgestellt. Die Systeme ermöglichen eine beschleunigte Entwicklung und schnelleres Hochfahren der Produktion von SSD-Produkten. Zudem lässt sich die Effizienz in der Entwicklung durch leistungsfähige und einfach einzusetzende Software-Tools sowie eine revolutionäre Multi-Protokoll-Hardware-Architektur verbessern.

In dem schnell wachsenden und wettbewerbsintensiven SSD-Markt erlaubt ein Testsystem, das verschiedene Protokolle unterstützt, eine schnelle Umstellung von einer Produktversion - oder Produktgeneration - auf die nächste, und zwar nahezu ohne Umrüstung. Die fortschrittliche Technologie und Leistung des MPT3000 ermöglicht den Herstellern eine schnelle Erweiterung ihres Produktportfolios, wobei sie nach wie vor auf die sich stetig ändernden Anforderungen des wachsenden SSD-Marktes reagieren können.

Durch die Verbreitung der sehr leistungsfähigen Protokolle PCIe 3.0 und NVM Express wird ein weiteres Wachstum bei SSDs erwartet. Die SSD-Hersteller benötigen daher mehr Flexibilität, um neue Produkte zu entwickeln. Advantest hat sein flexibles MPT3000 System speziell im Hinblick auf die Testanforderungen der Kunden sowohl für Enterprise- als auch Client-SSDs entwickelt.

"Die entscheidenden Vorteile unserer neuesten Testlösung sind eine hohe Flexibilität für unterschiedlichste Produkttypen und eine echte Multi-Protokoll-Fähigkeit. Damit erhalten die Kunden eine effiziente Lösung von der Produktqualifikation bis zur Volumen-Produktion., Beides unterstützt die Time-to-Market zu verkürzen", sagt Colin Ritchie, Vice President of Global Technology, Research and Innovation (GTRI) von Advantest America. "Nach der Einführung unserer NEO-SSD Plattform im letzten Juli haben wir uns inzwischen als ein führender Anbieter von SSD-Testlösungen positioniert. Marktanalysten erwarten, dass die SSD-Stückzahlen bis 2017 auf mehr als 200 Millionen pro Jahr wachsen."

Um eine effiziente Testlösung für den SSD-Markt zur Verfügung zu stellen, kombiniert das MPT3000 die Expertise von Advantest im Test von High-Speed-SoC-Bauteilen (System-On-Chip) mit einer modernen Elektronik-Architektur, die eine proprietäre Hardware-Beschleunigung umfasst und eine Leistung von bis zu 12G erreicht. Zusätzlich enthält das System eine Kammer, die genaue thermische Bedingungen für das Testobjekt gewährleistet. Außerdem verfügt das MPT3000 über eine unabhängige Stromversorgung für den Test der neuen leistungsfähigen Enterprise-SSDs.

Die Multi-Protokoll-Fähigkeit des Systems und eine hohe Parallelität ermöglichen eine Prüfung der vollen Leistungsfähigkeit von unterschiedlichsten SSD-Formfaktoren, wie 2,5" Laufwerken, PC-Karten mit halber und voller Bauhöhe, M.2 und Produkten mit kundenspezifischen Bauformen. Durch diese Vielseitigkeit können die SSD-Hersteller verschiedene Geschäftsmöglichkeiten gleichzeitig verfolgen und sich problemlos an die sich rasch ändernden Anforderungen dieses dynamischen und schnell wachsenden Marktes anpassen.

www.advantest.de/



Aktuelle Termine

Messtec & Sensor Masters 2017
28. bis 29. März 2017
zur Terminübersicht...
LOPE-C 2017
28. bis 30. März 2017
zur Terminübersicht...
emv 2017
28. bis 30. März 2017
zur Terminübersicht...

Banner-Werbung

Social Media

twitter_follow_420x50px