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News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Testsystem für Display-Treiber-ICs für hochauflösende LCD-Panels

Advantest-T639130. Oktober 2014 - Advantest hat mit dem neuen T6391 eine Testlösung für Display-Treiber-ICs (DDIs) der nächsten Generation vorgestellt. Damit lassen sich die embedded Funktionen der Treiber zur Steuerung hochauflösender LCD-Panels prüfen. Der neue Tester wurde speziell im Hinblick auf drei entscheidende Trends im DDI-Markt entwickelt: die steigende Pin-Zahl bei Display-Treibern, die höheren Geschwindigkeiten der Schnittstellen und die Integration vieler Funktionen - alles zusammen ermöglicht Displays mit höherer Auflösung.

Die hohe Integrationsdichte der fortschrittlichen DDIs hat mehrere einzigartige Testherausforderungen zur Folge. Da zum Beispiel auch die Berührungssensor-Funktionen eines LCDs in das DDI integriert werden, sind eine große Zahl von Logik-/Analog-Schaltungen zu prüfen. In naher Zukunft werden wohl auch Leistungsmanagement-IC-Funktionen (PMIC) in den DDIs enthalten sein. Durch die zunehmende Verbreitung von LCD-Panels in mobilen Anwendungen, wie Smartphones, Tablet-Computer und Notebooks, steigt zusätzlich die Nachfrage nach Bauteilen mit kleinerer Baugröße und mehr Funktionalität.

Neues T6391 Testsystem

Das Advantest T6391 System ist die einzige Testplattform, die alle diese aktuellen und künftigen Testanforderungen abdeckt. Als Teil der T6300 Produktfamilie nutzt der neue Tester die gleiche Entwicklungsumgebung wie die vorhandene Basis der mehr als 1.500 installierten Tester der T6300 Serie. Zudem kommt dieselbe TDL-Programmiersprache zum Einsatz, wobei der Durchsatz durch eine schnellere Datenübertragung und Berechnungen verbessert werden konnte.

"Durch unser Pin-Karten-Design erhalten die DDI-Hersteller sowohl für die Entwicklung als auch für die Produktion die derzeit beste Lösung auf dem Markt", sagt Satoru Nagumo, Executive Officer der Advantest Corporation. "Dieser neue Tester deckt alle Arten von Anwendungen ab, wie Halbleiter mit vielen Pins, High-Speed-Schnittstellen, analoge Schaltkreise, Speicher und Logikbauteile."

Der High-Speed-Bus des Testers ermöglicht eine Prüfung mit sehr hohem Durchsatz. Mit 512 I/O-Kanälen kann der T6391 mehrere Chips gleichzeitig prüfen. Er eignet sich so auch für hochauflösende DDIs für bis zu 3.584 LCD-Pins. Das reicht für einen Test der LCDs mit der derzeit höchsten Pin-Zahl aus, wie Full-HD, WXGA und HD720 Displays.

Das T6391 unterstützt I/O-Pin-Frequenzen von bis zu 1,6 Gigabit pro Sekunde (Gbps), so dass sich auch DDIs mit MIPI (Mobile Industry Process Interface) prüfen lassen, ein Standardprotokoll für mobile Elektronik. Ein zusätzliches Messmodul erlaubt dem System eine Prüfung von noch schnelleren Schnittstellen mit bis zu 6,5 Gbps, die in LCD-Treibern der nächsten Generation von ultrahochauflösenden Fernsehgeräten, wie der 4K-Generation (2160p), zum Einsatz kommen.

Ein 16-Kanal-Arbiträr-Signalgenerator (AWG) und eine Digitizer ermöglichen den Test von analogen ICs. Scan- und Speicher-Tests von DDIs mit Touch-Sensor-Unterstützung lassen sich mit dem Scan-Pattern-Generator (SCPG), dem algorithmischen Pattern-Generator (ALPG) und dem Defekt-Speichermodul (AFM) des Systems durchführen.

Der T6391 Tester soll Ende dieses Kalenderjahres an Kunden ausgeliefert werden.

www.advantest.de/



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