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News - Service/Wartung/InstallationOne-Stop-Testlösung für Silizium-Photonik-Wafer-Produktion15. September 2021 – Keysight Technologies hat das neue Silizium-Photonik-Testsystem NX5402A vorgestellt. Die Lösung ermöglicht einen schnellen Start der Serienproduktion mit Stabilität und Reproduzierbarkeit. Das System enthält u.a. die Softwaretechnologie Keysight PathWave Semiconductor Test (Teil der Keysight PathWave Test Software). Die Lösung ermöglicht einen schnellen Start der Serienproduktion mit Stabilität und Reproduzierbarkeit. Die Halbleiterhersteller können damit die Produktion von Silizium-Photonik-Wafern beschleunigen. Die Silizium-Photonik ist eine der wichtigsten aufkommenden Technologien zur Bewältigung des wachsenden Internet-Traffics und der Nachfrage nach höheren Datenraten. Die Silizium-Photonik wird in erster Linie im Rechenzentrum eingesetzt, vor allem bei Big-Data- und Cloud-Anwendungen, aber auch in anderen Bereichen wie dem Gesundheitswesen, der Lichterkennung und Entfernungsmessung in der Automobilindustrie (LiDAR), dem optischen Computing und dem Quantencomputing. Einem aktuellen Marktforschungsbericht von Yole Développement zufolge wird der Gesamtmarkt für Silizium-Photonik im Jahr 2025 ein Volumen von 3,9 Milliarden US-Dollar erreichen. Infolgedessen erwägen viele Hersteller den Einsatz von Silizium-Photonik. Bisher gibt es jedoch keine kommerziell erhältlichen Silizium-Photonik-Testgeräte für die Serienproduktion unter Verwendung vollautomatischer Wafer-Prober. Darüber hinaus erfordern Silizium-Photonik-Tests eine Vielzahl empfindlicher und genauer Messungen. Unternehmen und Systemintegratoren setzen auf Systemoptimierung und -wartung, da die Kommunikation mit mehreren Anbietern komplex und ineffizient ist. „Angesichts der wachsenden Marktnachfrage nach Silizium-Photonik freut sich Keysight, die erste Testlösung für die Serienproduktion von Silizium-Photonik ankündigen zu können“, sagte Shinji Terasawa, Vice President und General Manager der Keysight Wafer Test Solutions Group. „Unser Testsystem NX5402A ist die erste Lösung, die das Know-how von Keysight in der elektrischen und optischen Messtechnik mit dem Faserausrichtungs- und Positionierungssystem von Keysight kombiniert, das in der PathWave Semiconductor Test Software integriert ist.“ Das neue Silizium-Photonik-Testsystem NX5402A von Keysight bietet die folgenden wichtigen Vorteile für den Anwender:
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