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Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsEffizientere Erstellung und Ausführung von JTAG-Testvektoren
Die neueste Version der Software ist auf die Hardwareplattform SCANFLEX II optimiert und erschließt deren volle Leistungsfähigkeit. Gemeinsam repräsentiert das System die derzeit modernste JTAG/Boundary Scan Architektur am Markt. Sie ermöglicht echt unabhängig parallele Scanvorgänge an bis zu 8 TAPs (Test Access Port) gleichzeitig mit 100 MHz Taktfrequenz bei voller Signallaufzeitkompensation. Von besonderer Bedeutung für die Performance ist dabei die weiterentwickelte SPACE III Technik zur Datenkompression. In Kombination mit der optimierten SYSTEM CASCON Ansteuerung können die Testprozeduren teilweise drastisch beschleunigt werden. Besonders profitieren davon komplexe RAM Interconnection Tests, massive SVF (Serial Vector Format) basierende Tests, VarioTAP-Prozeduren zum Processor Emulation Test und ChipVORX-Prozeduren für den FPGA Assisted Test. SYSTEM CASCON bietet mehr als 40 Werkzeuge zum Test per Boundary Scan/IEEE1149.x, zum Processor Emulation Test, zum FPGA Assisted Test, zum Embedded Diagnostics Test, zur Design Validierung, zum Debugging, sowie für verschiedenste Programmierstrategien. Dadurch kann der Anwender alle Embedded JTAG Solutions Technologien zum Test und zur Programmierung von komplexen Designs mit stark reduziertem physikalischem Zugriff auf einer Plattform entwickeln und ausführen. www.goepel.com/ Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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