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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-TestBoundary Scan On-Board Teststeuerung für Debugging und Reparatur08. September 2010 - JTAG Technologies präsentiert ein neues Support-Paket für Baugruppen- und Systementwickler, die einen einfachen BIT-Zugang (Built-in Test) für den Boundary Scan Test und die On-Board (Um)-Programmierung implementieren möchten. Temperiertes Testen von Elektronikbaugruppen06. September 2010 - Durch den Einsatz von Thermoboxen als Werkstückträger und von Paternoster-Modulen bietet die hatec GmbH, Bad Aibling, jetzt ein völlig neues, hocheffizientes Konzept für das temperierte Testen von Elektronikbaugruppen in der Serienfertigung. Tunneldurchlaufanlagen oder das aufwendige Beschicken von Temperierschränken entfallen, die Anlage ist modular und kann individuell - auch nachträglich - an jede Fertigungsgröße angepasst werden, vom Einzelmodul bis zur Großanlage. Testsysteme zur Absicherung der Fehlersicherheit von KFZ-Steuergeräten01. September 2010 - Der Fail Save Tester der SMART Electronic Development GmbH basiert auf einem Baukastensystem und ermöglicht dem Anwender auf allen Pins des Prüflings unterschiedliche Fehler anzuschalten und die Reaktion des Steuergeräts zu bewerten. Das Erfassen der Reaktion erfolgt je nach Fehlerart und Ausprägung durch das Messen von Signalgrößen und das Auslesen des Fehlerspeichers über ein Diagnosetool. Vorteile durch Verkettung von Produktions- und Inspektionsprozessen24. August 2010 - IPTE Factory Automation hat mit Transport- und Handlings-Modulen aus der EasyLine-Produktpalette im „Chip und Wire"-Bereich bei Continental in Nürnberg die Produktionsschritte Bonden und automatische optische Inspektion miteinander verkettet. Dadurch konnte eine drastische Reduzierung der Durchlaufzeiten sowie des Warenbestandes in der Produktion erreicht werden. AOI-System für doppelseitig bestückte Leiterplatten20. August 2010 - Das neue AOI-System LaserVision CompactTWIN der Schneider & Koch Ingenieurgesellschaft mbH, Bremen, verfügt über zwei AOI-Testköpfe und ermöglicht damit eine parallele Inspektion der Ober- und Unterseite von beidseitig bestückten elektronischen Baugruppen. Dadurch können gegenüber konventionellen AOI-Systemen die Prüf- und Handlingszeiten nochmals signifikant gesenkt werden. Fahrzeugdiagnose nach ISO 1422918. August 2010 - Das von Hitex erhältliche Produkt Vehicle Spy, eine universelle Software für Fahrzeug-Netzwerke , enthält jetzt eine vollständige Unterstützung für UDS (Unified Diagnostic Services). Mit dem UDS-Protokoll können Diagnosedaten aus dem Fahrzeug ausgelesen und Steuergeräte aktualisiert werden. UDS ist in der ISO 14229 spezifiziert. In-System Emulationstechnik für ARM11 Core16. August 2010 - GÖPEL electronic hat eine spezielle Modellbibliothek für Prozessoren mit einer ARM11 Architektur für die Emulationstechnik VarioTAP entwickelt. Diese sind modular als intelligente IP strukturiert und ermöglichen eine vollständige Fusion von Boundary Scan Test und JTAG Emulation. Auf dieser Basis können auch On-Chip Flash in-system programmiert werden. Außerdem unterstützt VarioTAP interlaced Bus Emulation Tests (BET) und System Emulation Tests (SET) für erweiterte JTAG/Boundary Scan Funktionalitäten. Weitere Beiträge ...
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