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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-TestFunkstörmessempfänger mit 1 GHz Bandbreite20. Juli 2022 - Damit EMV-Ingenieure der Marktnachfrage nach immer höheren Messgeschwindigkeiten gerecht werden können, hat Rohde & Schwarz auf der EMV 2022 in Köln eine einzigartige Breitbandlösung vorgestellt, die bis zu 970 MHz in Echtzeit messen kann und dabei einen hohen Dynamikbereich und eine hohe Messgenauigkeit bietet. Dank dieser neuen Erweiterung erzielt der R&S ESW Funkstörmessempfänger die branchenweit größte Bandbreite und positioniert sich als schnellster EMI-Messempfänger auf dem Markt. CAN-Adapter für Leistungsanalysatoren14. Juli 2022 - Mit dem WT-CAN Adapter von Yokogawa lassen sich bis zu 1000 numerische Messdaten in das CAN 2.0A/CAN 2.0B Protokoll bei Übertragungsraten bis 1 Mbit/s konvertieren, und zwar ganz ohne Programmierkenntnisse. Der Adapter ist maßgeschneidert für die Präzisions-Leistungsanalysatoren WT5000, WT3000E und WT1800E. Die dedizierte und kostenfreie Software >WT-CAN Setting Tool< ermöglicht dabei die schnelle und einfache Konfiguration des Adapters, sowie den Export einer DBC-Datei für das CAN-System. Kopplungs- und Entkopplungsnetzwerke für leitungsgebundene Immunitätstests08. Juli 2022 - Tekbox präsentiert vier neue Kopplungs- und Entkopplungsnetzwerke (CDN) für leitungsgebundene EMV-Immunitätstests gemäß der Norm IEC 61000-4-6. CDNs dienen zur Einkopplung von Gleichtakt-Störsignalen in die Versorgungsleitungen eines Prüflings, um die leitungsgebundene Störfestigkeit festzustellen. Ein CDN ist, ähnlich einer Netznachbildung (LISN - Line Impedance Stabilization Network), essenziell für die Durchführung von Immunitätstests. Studie: automatisiertes Testen ist eine große Herausforderung für Unternehmen07. Juli 2022 – Keysight Technologies hat die Ergebnisse einer von Keysight in Auftrag gegebenen und von Forrester durchgeführten globalen Studie bekannt gegeben, in der Entscheidungsträger aus dem Bereich Test Operations befragt wurden, um den Stand der Teststrategien und -technologien zu ermitteln. Die Studie mit dem Titel „Conquer Testing Complexities with Automation and Artificial Intelligence (AI)“ (Komplexe Tests mit Automatisierung und künstlicher Intelligenz bewältigen) zeigt, dass die Automatisierung auf dem Vormarsch ist. Teil-automatisierte Montage- und Prüfsystem-Lösungen05. Juli 2022 - Gemeinsam mit der TEKON Prüftechnik hat ELABO auf vor kurzem stattgefundenen Automotive Testing Expo eine modulare Testanlage gezeigt, die durch verschiedene Kombinationen von Handarbeitsplätzen und (teil-)automatisierten Prüfstationen kundenindividuell gestaltet werden kann. Am Beispiel eines HV-Steckers für die Automobilindustrie wurde das Rundlaufsystem demonstriert. Das Werkstück durchläuft dabei zunächst einen Auflege- und Montagearbeitsplatz inklusive individueller digitaler Assistenz. Im Anschluss wird eine Sicherheitsprüfung nach VDE Vorgabe durchgeführt. Konformitätstests der Bitübertragungsschicht für Ultrabreitband04. Juli 2022 - Mit einer neuen Ultra-Wideband-PHY-Testsuite für den R&S CMP200 Radio Communication Tester bietet Rohde & Schwarz jetzt ein PHY Conformance Test Tool (PCTT) an, das Konformitätstests der UWB-Bitübertragungsschicht gemäß den Spezifikationen des FiRa Consortium unterstützt. Dank der einzigartigen UWB-Funktionalitäten zur sicheren Positionsbestimmung können UWB-fähige Geräte die Entfernung und Richtung verbundener Geräte genau und sicher messen. Diese Fähigkeiten machen UWB zur perfekten Technologie für Anwendungsfälle wie die Navigation im Innenbereich, Social Distancing, berührungsfreier Zugang, Teileverfolgung, Ticketvalidierung, mobile Bezahlung und Point-and-Trigger-Anwendungen. Emulation serieller Bus-Interfaces für Test und Programmierung01. Juli 2022 - Mit X-BUS hat GÖPEL electronic eine neue Technologie zur universellen Emulation von seriellen Bus-Interfaces für den Einsatz in Elektronikentwicklung und –Produktion entwickelt. Als Bestandteil der Software SYSTEM CASCON ermöglicht das X-BUS-Prinzip eine rein softwaregestützte Definition von Busprotokollen. Dadurch wird weniger Hardware für Embedded Test und Programmierung benötigt. Weitere Beiträge ...
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