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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-TestOptisches Inspektionssystem für Bestückungs-, LED-, Stecker- und Display-Test06. Februar 2015 - Seit Anfang Januar ist das automatisierte optische Inspektionssystem Platiscan auch wieder direkt über die Firma Amarant-Software erhältlich. Diese hatte das System zusammen mit dem Unternehmen WG-Test ursprünglich entwickelt. Die bisherigen Vertriebs- und Kooperationspartnerschaften bleiben bestehen. Das Platiscan VI (Visual Inspection) System ermöglicht eine automatisierte optische Qualitätskontrolle in der Fertigung elektronischer Baugruppen und ist als eigenständiges Prüfsystem, Inline- oder in den Prüfadapter integrierte Lösung verfügbar. Keysight Technologies steigt in den Markt für Leistungsanalysatoren ein05. Februar 2015 – Keysight Technologies präsentiert mit dem zweikanaligen Keysight IntegraVision PA2201A ein Gerät, das hochgenaue Leistungsmessfunktionen mit einer Touch-Screen-Bedienung und den Visualisierungsmöglichkeiten eines Oszilloskops kombiniert. Der neue Leistungsanalysator ermöglicht eine präzise Messung von Strömen, Spannungen und Leistungen sowie die Visualisierung des Zeitverlaufs dieser Signale bei der Entwicklung von Leistungselektronik. Eine Vier-Kanal-Version für Messungen an dreiphasigen Systemen soll im Herbst folgen. Demo-Baugruppe zur Überprüfung der Fehlerabdeckung04. Februar 2015 - Mit Integra V1 stellt GÖPEL electronic ein spezielles Boundary-Scan Demo-Modul vor, mit dem sich eine Kombination von verschiedenen Testverfahren, wie Funktionstest, In-Circuit-Test, Manufacturing Defect Analyzer und Flying Probe Test, ausprobieren lassen. Das Hardwaremodul beinhaltet verschiedene Boundary-Scan-Strukturen aber auch Komponenten, die Boundary Scan nicht unterstützen. Durch die interaktive Kombination unterschiedlicher Testverfahren lässt sich so eine Verbesserung der Fehlerabdeckung praktisch demonstrieren. Batteriebetriebener Gerätetester nach DIN VDE 0701-070230. Januar 2015 - Der PAT150 von Megger ist der erste handliche, batteriebetriebene Gerätetester, mit dem alle Gerätearten nach DIN VDE 0701-0702 geprüft werden können. Also auch Prüflinge mit elektronischen Netzschaltern wie zum Beispiel Computer oder sonstige elektronische Geräte. Das dazu notwendige Differenzstrommessverfahren ist eingebaut, dazu wird der PAT150 einfach an das Netz angeschlossen. Das widerstandsfähige Gehäuse ist jedoch in erster Linie auf netzunabhängigen Betrieb an extremen Einsatzorten ausgelegt.
Protokolltestlösung für eMBMS27. Januar 2015 – Anritsu erweitert seine Protokolltestlösung um die Enhanced Multicast Broadcast Multimedia Service (eMBMS) Funktionalität.Die neue Option unterstützt bereits heute Hersteller von Mobilfunk-Chipsets und -Endgeräten bei einer schnelleren Entwicklung von LTE-fähigen Produkten. Der e-Cast Broadcast Multicast Service Center-Server (BM-SC-Server) des Unternehmens EXPWAY wurde in die Testumgebung des LTE-Signalisierungstesters MD8430A und des Rapid Test Designers (RTD) von Anritsu integriert und ermöglicht so eine vollständige Testlösung.
Bis zu 8 SENT-Signale gleichzeitig auslesen23 Januar 2015 - Die CGS GmbH hat die im November vorgestellten CGS ISRM Module um eine integrierte direkte Trigger-Option erweitert. Das auf der CompactRIO (cRIO) Plattform von National Instruments basierende Modul kann bis zu 8 asynchrone SENT-Signalen auslesen. Es ist damit das derzeit weltweit erste und einzige Modul mit einem derartigen Funktionsumfang. SENT (Single Edge Nibble Transmission) ist eine digitale Schnittstelle für die Kommunikation von Sensoren und Steuergeräten vorwiegend in der Automobilelektronik. Es handelt sich um eine unidirektionale, asynchrone Spannungsschnittstelle, die drei Leiter benötigt.
Test und Debugging hochkomplexer heterogener Multicore-SoCs20. Januar 2015 -PLS Programmierbare Logik & Systeme wird auf der embedded world 2015 die neue Universal Debug Engine (UDE) 4.4 zeigen. Diese zeichnet sich durch deutlich erweiterte Debugging-Verfahren für komplexe SoCs mit heterogenen Controller-Kernen, eine optimierte Datenvisualisierung beim System-Level-Debugging sowie die dedizierte Unterstützung einer Vielzahl topaktueller 32-Bit-Multicore-SoCs verschiedener Hersteller aus. Weitere Beiträge ...
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