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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-Test
Konformitätstest-Applikation zur Charakterisierung von LPDDR4-Designs19. Januar 2015 – Keysight Technologies präsentiert eine umfassende Konformitätstest-Applikation zur Validierung von Systemen, die Low-Power-Double-Data-Rate-4-Speichertechnologie (LPDDR4) nutzen. Die neue Applikation ermöglicht nicht nur die schnelle und effiziente Überprüfung von LPDDR4-Designs auf Konformität mit dem LPDDR4-JEDEC-JESD209-1-Standard, sondern unterstützt auch Offline-Tests unter Verwendung von Signalen aus Simulationstools wie Keysights Advanced Design System.
dSPACE unterstützt CAN FD16. Januar 2015 - dSPACE bietet mit dem dSPACE Release 2014-B ein neues Aufsteckmodul an – das DS4342 CAN FD Interface Module. Mit ihm lassen sich bestehende Systeme für Rapid-Control-Prototyping (RCP)- und Hardware-in-the-Loop (HIL)-Anwendungen mit dem neuen CAN-FD-Standard erweitern. Durch die Nutzung eines FPGAs ist das CAN-FD-Modul auch für zukünftige Anforderungen gut gerüstet.
Test- und Programmierstrategien für Bay Trail Prozessoren von Intel15. Januar 2015 - GÖPEL electronic hat spezielle Modellbibliotheken zum Testen und Programmieren von Intel Bay Trail Prozessoren, welche Bestandteil der Intel Atom Familie sind, entwickelt. Die als VarioTAP-Modelle bezeichneten Bibliotheken ermöglichen die flexible Ausführung von Prozessor-Emulationstest unter Nutzung des nativen Debug-Interfaces. Anwender können den Prozessor damit als Instrument zur Hardware-Design-Validierung von Prototypen, zum Produktionstest, sowie zur Programmierung von Flash-Bausteinen nutzen.
Test- und Analyse-Werkzeuge für embedded Software13 Januar 2015 - Die iSYSTEM AG hat ein neues Produkt zur Entwicklung und Test von Embedded Software vorgestellt. Mit dem iC5500 und den dazugehörigen Softwarepaketen, komplettiert iSYSTEM seine Reihe an Softwareentwicklungswerkzeugen für single und multi-core Software Entwicklung, Analyse, Test Automatisierung und Zertifizierung.
Echtzeit-Bildoptimierung und BGA-Analyse für Röntgensystem09. Januar 2015 - Inspect-X 4.1, die neueste Version der Software für die Aufnahme und Auswertung von Daten für Röntgen- und CT-Prüfsysteme von Nikon Metrology, ermöglicht eine verbesserte Echtzeit-Bildgebung und erweiterte BGA-Analyse. Die Echtzeit-Bildoptimierung mit „C.Clear“ liefert einfach verständliche Bilder. Neue Bildverarbeitungsalgorithmen ermöglichen eine automatisierte BGB-Analyse und Berichterstattung für gestapelte Komponenten und Mehrlagen-Leiterplatten.
EMV Workshop-Programm 2015 veröffentlicht23 Dezember 2014 - Das Programm zur EMV 2015 in Stuttgart, welches vom Workshop-Komitee unter der Leitung von Prof. Dr.-Ing. Marco Leone von der Otto-von-Guericke-Universität zusammengestellt wurde, bietet auch 2015 eine umfangreiche Informations- und Wissensplattform. Der Fokus der 38 anwenderbezogenen Workshops liegt unter anderem auf wichtigen EMV-Grundlagen, der EMV im modernen Kraftfahrzeug und der Leistungselektronik sowie auf normativen und prüftechnischen EMV-Anforderungen im globalen Markt.
Analyse des CAN-FD Schnittstellenprotokolls mit dem Oszilloskop19. Dezember 2014 - Rohde & Schwarz bietet für seine Oszilloskope der Familien R&S RTE und R&S RTO eine Analyselösung für das CAN-FD Schnittstellenprotokoll an. Mit einer neuen Option können Entwickler CAN-Schnittstellen untersuchen, die das schnelle Busprotokoll CAN Flexible Data (CAN-FD) unterstützen. Diese Schnittstellen kommen aufgrund der Anforderung für höhere Datenraten in immer mehr Automobil- und Industrieanwendungen zum Einsatz. Weitere Beiträge ...
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