Halbleiter-Testsystem und Curve Tracer

07. November 2011 - Syntel Testsysteme hat sein Produktspektrum um das universelle Halbleiter-Testsystem der Serie 5000 der Firma Scientific Test erweitert. Der Einsatzbereich umfasst die Prüfung von diskreten Bauteilen, wie Dioden, Transistoren über SCR´s, MOSFET´s, IGBT´s bis zum Optokoppler, auch für gemischte Bauteilvarianten.

Der Spannungs- und Strombereich von 1000V und 50A kann bei Bedarf mit Optionen bis 2000V und 1200A erweitert werden. Eine Low-Current Option erlaubt Sperrstrom Messungen bis 20pA bei 1pA Auflösung. Für Mehrfachbauteile bis zu 24 Pins werden Scanner (1200V/30A) verschiedener Ausbaustufen angeboten, ebenso für Hybride und Leistungshalbleiter die in einem Gehäuse zusammengefasst sind (2000V/100A). Zur Erweiterung des Grundsystems an mehrere Teststationen, sei es manueller Art oder für Handlingsysteme, stehen Multiplexer zur Verfügung. Zur Kontaktierung und Aufnahme der Prüflinge steht ein umfangreiches Sortiment an Gehäuse spezifischen Adaptern zur Auswahl. Die Programmerstellung erfolgt auf einem Standard PC mit Windows 7 pro. Die komfortable Software auf Menübasis erlaubt die Eingabe der vorgegebenen Parameter gemäß Datenblatt, sowie weitere Messungen mit externen Komponenten. Das Programm wird in das System geladen, welches dann autark betrieben wird. Alle Möglichkeiten des Dataloggings und Data Managements der Ergebnisse, sowie die Sortierung von Bauteilen sind Bestandteil der Software. Ein umfangreicher Selbsttest mit Diagnosehardware gehört zum Lieferumfang des Systems. Für Curve Tracer Anwendungen kann das System mit einem eigenen Softwarepaket geliefert werden.