System-level JTAG (Boundary Scan)

Scanning Laser Acoustic Microscope

Standard Module Avionic Repair and Test - Test und Reparatur von Standardmodulen für die Luftfahrt

Source-Measure-Unit – Multifunktionsgerät mit einer Kombination aus Spannungs- und Stromquelle sowie Multimeter

Signal-to-Noise Ratio - Signal-Rausch-Abstand

Short Open Load Through

Multifunktionsgerät mit einer Kombination aus Spannungs- und Stromquelle sowie Multimeter

Solder Paste Inspection - Lotpasten-Inspektion

Sound Pressure Level - Schalldruckpegel

Scanning Probe Microscope – Rastersondenmikroskop

Standard Positioning Service (GPS)

Simulataneous Sample and Hold - Simultane Abtastung und Zwischenspeicherung

Binäres Datenformat zur Speicherung von Messdaten beim Test von Halbleitern. Wurde ursprünglich von Teradyne entwickelt, wird aber inzwischen auch von anderen ATE-Anbietern unterstützt.

Semiconductor Test Consortium Das Semiconductor Test Consortium (STC) ist eine Organisation zur Förderung der weltweiten Verbreitung offener Teststandards (z.B. OpenStar) in der Halbleiterindustrie. Das STC wurde im Jahr 2003 gegründet und Anfang 2009 wieder aufgelöst. Die bis dahin erarbeiteten Standards wurden an die Semiconductor Equipment and Materials International (SEMI) übergeben. Die Marke OpenStar wurde an das Unternehmen Advantest Corp. übergeben.

Standard Test Data Format

Scanning Transmission Electron Microscope - Durchstrahlungs-Rasterelektronenmikroskop

Simple Transition Electronic Processing

Standard Test Interface Language (IEEE 1450)

Semiconductor Test Interface eXtensions (Initiative)

Standard Temperature Pressure Dry - Standardbedingungen für Gasmessungen (Temperatur/Druck/Feuchte)