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Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsSechs Netzwerkanalysatoren für Frequenzbereich von 9 kHz bis 9 GHz17. Februar 2015 - Keysight Technologies stellt neue Netzwerkanalysatoren in drei unterschiedlichen Bandbreiten-Versionen von 9 kHz bis 4,5 GHz, von 9 kHz bis 6,5 GHz und von 9 kHz bis 9 GHz vor. Diese Bandbreitenmodelle gibt es dann jeweils als 2-Tor- oder als 4-Tor-Varianten (50 Ω) mit den jeweiligen Bias-Tees. Hervorzuheben ist der enorme Dynamikbereich mit 135 dB (spezifiziert), bzw. 147 dB (typisch). Automatisierter Fertigungsendtest von tragbaren Endgeräten16. Februar 2015 - JOT Automation stellt mit JOT G3 eine All-in-One-Testlösung für den automatisierten Fertigungsendtest von Smartphones vor. Die Testlösung eignet sich ebenso für die Prüfung von anderen tragbaren Geräten, wie z. B. Smartwatches, und gewährleistet einem wiederholbaren, zuverlässigen Prozess. JOT G3 führt vielfältige Tests auf einer einzigen Plattform aus. Mit dem kompakten System können alle erforderlichen Schnittstellentests vorgenommen werden, z. B. für HF-Technik, Elektrik, Mechanik, Berührungsbildschirme, Schaltflächen, Audiotechnik und Steckanschlüsse. Automatischer Vierfach-Funktionstester für den Automotivebereich12. Februar 2015 - MCD Elektronik hat einen automatischen Funktionstester für Automobilzulieferer zur vollautomatischen Prüfung von Head Units entwickelt. Als Head Unit bezeichnet man im Automotivebereich eine Zentraleinheit, die neben der CPU auch die Audioaufbereitung, MP3-Decodierung und Grafiksteuerung enthält. Sie gilt auch als Schnittstelle zwischen Mensch und Fahrzeug und vereint die Funktionen von Autoradio, Navigationssystem und Fahrerassistenzsystem in einer Bedieneinheit, dem sogenannten Infotainmentsystem. Prüftechnologie-Forum: Baugruppentest vom Design bis End-of-Line11. Februar 2014 - Die Firma GÖPEL electronic veranstaltet am 3. und 4. März 2015 in Weimar erstmals das Prüftechnologie-Forum. Die Fachveranstaltung deckt alle Bereiche der Prüfung elektrischer Baugruppen zur Qualitätssicherung in der Elektronikproduktion ab, und zwar von der Entwicklung bis hin zum Endtest fertiger Produkte. Testsockel und Contactor für M2M-Module10. Februar 2015 - Yamaichi Electronics präsentiert Test-Kontaktoren für Machine-to-Machine (M2M) Module. M2M-Module regeln die globale Positionierung und Datenübertragung in industriellen Produkten, wie auch in Konsumenten- und Automatisierungsprodukten. Um M2M-Module zu testen, hat Yamaichi Electronics im Rahmen der YED274-Serie eine Test-Contactor-Lösung entwickelt. Der Contactor wird individuell an die unterschiedlichen M2M-Module angepasst und eignet sich beispielsweise für Prüfstand- oder Zuverlässigkeitstests von -50 °C bis zu +150 °C. Programmierbare PCI- und PXI-Widerstandsmodule09. Februar 2015 – Pickering Interfaces erweitert seine Palette der PCI und PXI programmierbaren Widerstandsmodule um zwei neue Produkte: die kombinierten, programmierbaren Widerstands- und Relaismodule 50-294 (PCI) und 40-294 (PXI). Pickering Interfaces setzt damit seine Idee der Unterstützung unterschiedlicher Plattformen fort und bietet die beiden Widerstandsmodule mit denselben Optionen für den PCI- und PXI-Formfaktor an. Optisches Inspektionssystem für Bestückungs-, LED-, Stecker- und Display-Test06. Februar 2015 - Seit Anfang Januar ist das automatisierte optische Inspektionssystem Platiscan auch wieder direkt über die Firma Amarant-Software erhältlich. Diese hatte das System zusammen mit dem Unternehmen WG-Test ursprünglich entwickelt. Die bisherigen Vertriebs- und Kooperationspartnerschaften bleiben bestehen. Das Platiscan VI (Visual Inspection) System ermöglicht eine automatisierte optische Qualitätskontrolle in der Fertigung elektronischer Baugruppen und ist als eigenständiges Prüfsystem, Inline- oder in den Prüfadapter integrierte Lösung verfügbar. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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