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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-TestTesten IP-Protokoll basierter Datenkommunikation im Auto06. Mai 2013 – Testspezialist RUETZ SYSTEM SOLUTIONS stellt jetzt mit TTsuite 1.3.0 eine neue, erweiterte Version der bewährten und einfach zu bedienenden Testplattform zur Verfügung. Der qualifizierte Systemintegrator für Automotive-Datenkommunikation hat dem Testsystem diverse Funktionalitäten wie das, IP-Protokoll basierte Testen und das Erzeugen von Testfällen aus erfassten Daten (Capture and Replay) hinzugefügt. Zudem steht ein ergänztes Test Development Kit (TDK) bereit. Boundary Scan Days 2013 mit Schwerpunkt Embedded System Access03. Mai 2013 - Am 15. und 16. Mai 2013 veranstaltet die GÖPEL electronic GmbH zum 13. Mal die Boundary Scan Days in Jena. Der Schwerpunkt liegt in diesem Jahr auf den Embedded System Access (ESA) Technologien, zu denen sowohl JTAG/Boundary Scan als auch neuartige Verfahren wie Chip Embedded Instruments, Processor Emulation Test, In-System Programming oder Core Assisted Programming gehören. Ein besonderer Höhepunkt ist die Vorstellung von Bit Error Rate Tests (BERT) auf Basis von FPGA Embedded Instruments. Desktop-Tester für Embedded System Access26. April 2013 – GÖPEL electronic stellt eine Reihe neuer Features für die Desktop-Tester der JULIET-Familie vor. Die Systeme unterstützen nun auch sämtliche Embedded System Access (ESA) Technologien zur High-Speed In-System-Programmierung von Flash, PLD und MCU, sowie zum strukturellen und funktionalen At-Speed-Boardtest. Dazu gehören neben dem traditionellen Boundary-Scan-Verfahren auch Strategien wie Prozessor-Emulation auf Basis VarioTAP oder Chip Embedded Instruments auf Basis der ChipVORX-Technologie. MEK stellt neue Generation von AOI-Systemen vor24. April 2013 - MEK hat eine völlig neue Generation von AOI-Systemen vorgestellt und das Produktporfolio um 4 neue Desktop- und 3 neue Inline-AOI-Systeme erweitert. Die PowerSpector Serie wurde in den Bereichen Mechanik, Kamera-, Sensor- und Softwaretechnologie überarbeitet. Die Leistung konnte deutlich gesteigert und neue Maßstäbe hinsichtlich Geschwindigkeit, Präzision und Prüfstrategie gesetzt werden. EMV-Testgenerator mit 8kV Impulsen und Farbdisplay23. April 2013 - EMC PARTNER stellt mit dem IMU3000 einen Immunity-Testgenerator mit intuitiver grafischer Bedienung für das EMV-Labor vor. Der Generator entsprechend den jeweiligen Anforderungen mit unterschiedlichsten Modulen konfiguriert werden. Zur Auswahl stehen Module für ESD, EFT, CWG, RINGWAVE, 10/700us, AC/DC DIPS, INTERRUPTS, VARIATIONS, COMMON MODE und sowohl AC als auch IMPULSE MAGNETIC FIELDS. Automatische Inspektion der THT-Bauteil- und Lötseite22. April 2013 - GÖPEL electronic hat sein AOI-System OptiCon THT-Line weiterentwickelt, so dass nun eine Inspektion der THT-Bauteil- und Lötseite sowohl im oberen Transportband als auch in der unteren Rückführung erfolgen kann. Die bewährte Multispektralbeleuchtung der OptiCon-Systeme, der Einsatz von CCD-Matrix-Kameras sowie frei konfigurierbare Prüffunktionen und Beleuchtungsmöglichkeiten garantieren eine höchste Inspektionsqualität. Fachbuch zum Mess- und Kalibrierprotokoll XCP18. April 2013 – Vector Informatik stellt ein kostenloses Fachbuch über die Grundlagen und Einsatzgebiete des Mess- und Kalibrierprotokolls XCP vor. „XCP – Das Standardprotokoll für die Steuergeräte-Entwicklung“ ist gedruckt als Hardcover-Version und auch als E-Book für mobile Geräte erhältlich. Weitere Beiträge ...
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