News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Test- und Debug-Umgebung für XMC4700-/4800-SoCs von Infineon

PLS UDE XMC4800 Support 06. Juli 2015 – Eine optimierte Debug- und Testumgebung für die neuen XMC4700-/XMC4800-Mikrocontroller von Infineon stellt PLS Programmierbare Logik & Systeme Entwicklern mit der Version 4.4.5 ihrer Universal Debug Engine (UDE) zur Verfügung. Die auf einem Cortex-M4-Prozessor mit Floating Point Unit (FPU) basierenden, speziell für den industriellen Einsatz konzipierten 32-Bit-SoCs zeichnen sich durch außergewöhnliche Peripheriefunktionen wie beispielsweise eine EtherCAT-Kommunikationseinheit (XMC4800-Serie) und sechs CAN-Knoten aus.

Effiziente IMD-Messungen an aktiven Bauelementen

Anritsu MS4640B IMD 01. Juli 2015 – Anritsu erweitert die IMD-Messmöglichkeiten (Intermodulation Distortion) seiner Vektor-Netzwerkanalysatoren (VNA) der VectorStar-Plattform. Hierdurch stehen neue Messfunktionen für hochgenaue und effiziente IMD-Messungen an Verstärkern zur Verfügung. Teil der Erweiterung ist die neue Software IMDView, die eine fortschrittliche und einfach zu bedienende grafische Benutzeroberfläche (GUI) bereitstellt. Sie vereinfacht komplexe IMD-Messungen und ermöglicht eine gründliche IMD-Evaluierung.

Universeller Memory-Tester für DRAM- und NAND-Flash-Speicher

Advantest T5833 29. Juni 2015 – Advantest stellt mit dem neuen T5833 System eine kostengünstige Testlösung für die Serienproduktion von Speicherbauteilen vor. Der Tester eignet sich sowohl für Wafer-Sort als auch für den Endtest von DRAM- und NAND-Flash-Speicher-Bauteilen und wird in diesem Monat an erste Kunden ausgeliefert.

Integrierte Testlösung für optische Transceiver

08. Juni 2015 - Advantest stellt das neue 28G OPM (28 Gigabit Optical Port Module) für die Testplatform T2000 vor, das speziell für den Test von optischen Transceiver-Bauteilen entwickelt wurde. Dies sind moderne Halbleiter-Bauteile, die Daten über Glasfasern senden und empfangen können. Durch den Einsatz der Glasfasertechnik ermöglichen diese Bauteile eine Datenübertragung über größere Entfernungen mit höheren Geschwindigkeiten und niedrigerem Stromverbrauch als mit elektrischen Leitungen.

Strom/Spannung-Analysatoren zur Charakterisierung von Materialien und Bauteilen

Keysight Precision IV Analyzer 03. Juni 2015 – Keysight Technologies präsentiert eine komplette Serie von Strom-/Spannungs-Analysatoren (I-V) für die Charakterisierung von Nanomaterialien und Elektronikbauteilen unterschiedlichster Art. Die neue Precision Current-Voltage Analyzer Serie zeichnet sich durch hohe Genauigkeit und Leistungsfähigkeit sowie mächtige Analysefunktionen aus. Die Serie umfasst Modelle unterschiedlicher Preis- und Leistungsklassen, darunter auch preisgünstige Einstiegsmodelle ab $5.000.

4-Port-VNA mit Frequenzbereich von 70 kHz bis 110 GHz

Anritsu ME7838A 4port 29. Mai 2015 – Anritsu stellt mit dem VectorStar ME7838A4 einen 4-Port Breitband-VNA (Vektor-Netzwerk-Analyzer) vor, der einen differentiellen Frequenz-Sweep von 70 kHz bis 110/125 GHz bietet und stabile und schnelle Messungen für die Charakterisierung differentieller Bausteine ermöglicht. Der ME7838A4 bietet Entwicklern, die mit On-Wafer-Techniken und Signalintegrität betraut sind, damit eine höchste Leistungsfähigkeit bei der Durchführung differentieller Messungen.

Analyse von Halbleiterschaltungen mittels Terahertz-Technologie

26. Mai 2015 – Advantest hat eine Technologie zur Analyse von elektrischen Schaltungen auf der Basis von kurzen Terahertz-Impulsen entwickelt. Die Technologie hat 2 Hauptanwendungen - die Analyse der Übertragungscharakteristik (S-Parameter) von Bauteilen für das Sub-Terahertz-Band (100 GHz bis 1 THz) sowie die Charakterisierung und die Lokalisierung von Defekten in Chip-Schaltungen (TDT/TDR).

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