News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Testsockel für Halbleitertest, HAST, HTOL und Ausfallanalyse

Yamaichi 0.35mm TestContactor 05. Oktober 2015 – Yamaichi Electronics stellt Test Contactoren (Prüfsockel) für Labor- und Zuverlässigkeitstests sowie für Halbleiterbauelemente mit 0,35 mm Rastermaß (Pitch) vor. Dieses Kontaktrastermaß wird bei neuen Halbleiterbauelementen wie z.B. CSPs auf Wafer-Ebene für mobile Geräte verwendet. Für den Test derartiger Bauelemente hat Yamaichi Electronics in Europa (Zentrale in München) die Test Contactoren der Baureihen YED254 und YED274 entwickelt.

Test von Speicher-ICs mit Datenraten von bis zu 16 Gbps

24. August 2015 – Advantest hat mit der HSM16G die bisher schnellste voll integrierte Memory-Testkarte vorgestellt. Die neue Karte erweitert die High-Speed-Testfunktionen der Advantest V93000 HSM Tester für einen At-Speed-Test von ultraschnellen Memory-ICs auf bis zu 16 Gigabit pro Sekunde (Gbps) . Durch diese neue Produktvorstellung ist Advantest der erste Anbieter von automatischen Testsystemen (ATE), der eine integrierte Testlösung für die Bauteil-Entwicklung, das Debugging und die Volumen-Produktion der heute schnellsten GDDR5 und künftigen GDDR5X ICs mit parallelen Datenbussen mit bis zu 16 Gbps anbieten kann.

Flexible und erweiterbare SSD-Testlösung

Advantest MPT3000 04. August 2015 – Advantest stellt seinen Kunden eine neue Firmware zum Download zur Verfügung, mit der alle MPT3000 Systeme jetzt auch Serial Attached SCSI (SAS) 12G und Serial ATA (SATA) 6G SSD-Laufwerke (Solid-State Drive) prüfen können. Damit ist dies die erste echte Lösung, die mit einem einzigen System SSDs mit den Protokollen SAS, SATA und PCIe testen kann. Durch die Erweiterung der bereits bestehenden Unterstützung von PCIe 3.0, NVMe und AHCI um SAS und SATA erhöht sich die Testabdeckung der Plattform.

BGA-Testsockel mit integriertem Temperatursensor

Ironwood Clamshell BGA Testsockel 20. Juli 2015 - Um BGAs beim Test vor Überhitzung zu schützen und so einen vorzeitigen Ausfall zu vermeiden, stellt Ironwood Electronics einen intelligenten Sockel vor. Im Verschluss des Sockels ist ein Temperatursensor integriert, der nach verschließen des Sockels auf die Oberfläche des Prüflings gedrückt wird. Zusätzlich zum Sensor ist eine Steuereinheit im Sockel untergebracht, die über die Netzspannung des Prüflings versorgt wird.

Strom-/Spannungs-Analysatoren zur Charakterisierung von Materialien und Elektronikbauteilen

Keysight PCVA 07. Juli 2015 – Keysight Technologies präsentiert eine komplette Serie von Strom/Spannung- (I-V) Analysatoren für die Charakterisierung von Nanomaterialien und Elektronikbauteilen unterschiedlichster Art. Die neue Precision Current-Voltage Analyzer Serie bieten mächtige Analysefunktionen und genügen den Anforderungen zukunftsweisender Anwendungen. Die Serie umfasst Modelle unterschiedlicher Preis- und Leistungsklassen, darunter auch preisgünstige Einstiegsmodelle ab $5.000.

Test- und Debug-Umgebung für XMC4700-/4800-SoCs von Infineon

PLS UDE XMC4800 Support 06. Juli 2015 – Eine optimierte Debug- und Testumgebung für die neuen XMC4700-/XMC4800-Mikrocontroller von Infineon stellt PLS Programmierbare Logik & Systeme Entwicklern mit der Version 4.4.5 ihrer Universal Debug Engine (UDE) zur Verfügung. Die auf einem Cortex-M4-Prozessor mit Floating Point Unit (FPU) basierenden, speziell für den industriellen Einsatz konzipierten 32-Bit-SoCs zeichnen sich durch außergewöhnliche Peripheriefunktionen wie beispielsweise eine EtherCAT-Kommunikationseinheit (XMC4800-Serie) und sechs CAN-Knoten aus.

Effiziente IMD-Messungen an aktiven Bauelementen

Anritsu MS4640B IMD 01. Juli 2015 – Anritsu erweitert die IMD-Messmöglichkeiten (Intermodulation Distortion) seiner Vektor-Netzwerkanalysatoren (VNA) der VectorStar-Plattform. Hierdurch stehen neue Messfunktionen für hochgenaue und effiziente IMD-Messungen an Verstärkern zur Verfügung. Teil der Erweiterung ist die neue Software IMDView, die eine fortschrittliche und einfach zu bedienende grafische Benutzeroberfläche (GUI) bereitstellt. Sie vereinfacht komplexe IMD-Messungen und ermöglicht eine gründliche IMD-Evaluierung.

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