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![]() Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-TestTest- und Debug-Umgebung für XMC4700-/4800-SoCs von Infineon
Effiziente IMD-Messungen an aktiven Bauelementen
Universeller Memory-Tester für DRAM- und NAND-Flash-Speicher
Integrierte Testlösung für optische Transceiver08. Juni 2015 - Advantest stellt das neue 28G OPM (28 Gigabit Optical Port Module) für die Testplatform T2000 vor, das speziell für den Test von optischen Transceiver-Bauteilen entwickelt wurde. Dies sind moderne Halbleiter-Bauteile, die Daten über Glasfasern senden und empfangen können. Durch den Einsatz der Glasfasertechnik ermöglichen diese Bauteile eine Datenübertragung über größere Entfernungen mit höheren Geschwindigkeiten und niedrigerem Stromverbrauch als mit elektrischen Leitungen. Strom/Spannung-Analysatoren zur Charakterisierung von Materialien und Bauteilen
4-Port-VNA mit Frequenzbereich von 70 kHz bis 110 GHz
Analyse von Halbleiterschaltungen mittels Terahertz-Technologie26. Mai 2015 – Advantest hat eine Technologie zur Analyse von elektrischen Schaltungen auf der Basis von kurzen Terahertz-Impulsen entwickelt. Die Technologie hat 2 Hauptanwendungen - die Analyse der Übertragungscharakteristik (S-Parameter) von Bauteilen für das Sub-Terahertz-Band (100 GHz bis 1 THz) sowie die Charakterisierung und die Lokalisierung von Defekten in Chip-Schaltungen (TDT/TDR). Weitere Beiträge ...
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