News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Flexible und erweiterbare SSD-Testlösung

Advantest MPT3000 04. August 2015 – Advantest stellt seinen Kunden eine neue Firmware zum Download zur Verfügung, mit der alle MPT3000 Systeme jetzt auch Serial Attached SCSI (SAS) 12G und Serial ATA (SATA) 6G SSD-Laufwerke (Solid-State Drive) prüfen können. Damit ist dies die erste echte Lösung, die mit einem einzigen System SSDs mit den Protokollen SAS, SATA und PCIe testen kann. Durch die Erweiterung der bereits bestehenden Unterstützung von PCIe 3.0, NVMe und AHCI um SAS und SATA erhöht sich die Testabdeckung der Plattform.

BGA-Testsockel mit integriertem Temperatursensor

Ironwood Clamshell BGA Testsockel 20. Juli 2015 - Um BGAs beim Test vor Überhitzung zu schützen und so einen vorzeitigen Ausfall zu vermeiden, stellt Ironwood Electronics einen intelligenten Sockel vor. Im Verschluss des Sockels ist ein Temperatursensor integriert, der nach verschließen des Sockels auf die Oberfläche des Prüflings gedrückt wird. Zusätzlich zum Sensor ist eine Steuereinheit im Sockel untergebracht, die über die Netzspannung des Prüflings versorgt wird.

Strom-/Spannungs-Analysatoren zur Charakterisierung von Materialien und Elektronikbauteilen

Keysight PCVA 07. Juli 2015 – Keysight Technologies präsentiert eine komplette Serie von Strom/Spannung- (I-V) Analysatoren für die Charakterisierung von Nanomaterialien und Elektronikbauteilen unterschiedlichster Art. Die neue Precision Current-Voltage Analyzer Serie bieten mächtige Analysefunktionen und genügen den Anforderungen zukunftsweisender Anwendungen. Die Serie umfasst Modelle unterschiedlicher Preis- und Leistungsklassen, darunter auch preisgünstige Einstiegsmodelle ab $5.000.

Test- und Debug-Umgebung für XMC4700-/4800-SoCs von Infineon

PLS UDE XMC4800 Support 06. Juli 2015 – Eine optimierte Debug- und Testumgebung für die neuen XMC4700-/XMC4800-Mikrocontroller von Infineon stellt PLS Programmierbare Logik & Systeme Entwicklern mit der Version 4.4.5 ihrer Universal Debug Engine (UDE) zur Verfügung. Die auf einem Cortex-M4-Prozessor mit Floating Point Unit (FPU) basierenden, speziell für den industriellen Einsatz konzipierten 32-Bit-SoCs zeichnen sich durch außergewöhnliche Peripheriefunktionen wie beispielsweise eine EtherCAT-Kommunikationseinheit (XMC4800-Serie) und sechs CAN-Knoten aus.

Effiziente IMD-Messungen an aktiven Bauelementen

Anritsu MS4640B IMD 01. Juli 2015 – Anritsu erweitert die IMD-Messmöglichkeiten (Intermodulation Distortion) seiner Vektor-Netzwerkanalysatoren (VNA) der VectorStar-Plattform. Hierdurch stehen neue Messfunktionen für hochgenaue und effiziente IMD-Messungen an Verstärkern zur Verfügung. Teil der Erweiterung ist die neue Software IMDView, die eine fortschrittliche und einfach zu bedienende grafische Benutzeroberfläche (GUI) bereitstellt. Sie vereinfacht komplexe IMD-Messungen und ermöglicht eine gründliche IMD-Evaluierung.

Universeller Memory-Tester für DRAM- und NAND-Flash-Speicher

Advantest T5833 29. Juni 2015 – Advantest stellt mit dem neuen T5833 System eine kostengünstige Testlösung für die Serienproduktion von Speicherbauteilen vor. Der Tester eignet sich sowohl für Wafer-Sort als auch für den Endtest von DRAM- und NAND-Flash-Speicher-Bauteilen und wird in diesem Monat an erste Kunden ausgeliefert.

Integrierte Testlösung für optische Transceiver

08. Juni 2015 - Advantest stellt das neue 28G OPM (28 Gigabit Optical Port Module) für die Testplatform T2000 vor, das speziell für den Test von optischen Transceiver-Bauteilen entwickelt wurde. Dies sind moderne Halbleiter-Bauteile, die Daten über Glasfasern senden und empfangen können. Durch den Einsatz der Glasfasertechnik ermöglichen diese Bauteile eine Datenübertragung über größere Entfernungen mit höheren Geschwindigkeiten und niedrigerem Stromverbrauch als mit elektrischen Leitungen.

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