News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Memory Testsystem für UFS- und PCIe BGA SSDs

Advantest T5851 15. Januar 2016 – Advantest stellt mit dem T5851 System eine kostengünstige Testlösung für leistungsfähige UFS-Bauteile (Universal Flash Storage) und PCIe BGA Halbleiter-Speicherlaufwerke (SSDs) vor. Diese Memory-ICs werden derzeit besonders von den Herstellern stromsparender, mobiler Anwendungen wie Smartphones, Tablets und kompakten Notebooks stark nachgefragt.

Temperatur- und Druck-Stimulus für Test von Drucksensoren

Advantest EVA100 P Model 21. Dezember 2015 – Advantest stellt die Temperatur- und Druck-Stimulus-Einheit HA7200 vor. Diese wurde speziell für eine genaue Temperatur- und Druck-Stimulierung beim Endtest von Drucksensoren entwickelt. Bis zu vier Sensoren können in einer kleinen Kammer unter Temperatur geprüft werden, die anhand der Dual-Fluid-Technologie der Advantest Testhandler gesteuert wird. Der HA7200 erlaubt eine schnelle und hochgenaue Einstellung von Temperatur und Druck und verbessert dadurch die Zykluszeit und Genauigkeit der Abgleich- und Inspektionsprozesse deutlich.

Kompakter Halbleitertester für digitale ICs

Advantest EVA digital 11. Dezember 2015 - Advantest stellt mit der EVA100 Digital Solution das neuste Produkt der wachsenden EVA100 Messsystem-Familie vor. Das System eignet sich für den Test von unterschiedlichsten digitalen ICs, wie IoT-Bauteilen, Mikrocontrollern (MCUs), DFT- (Design-for-Test) und BIST- (Built-in Self-Test) Halbleitern sowie Logik-ICs. Es ist sowohl als Produktions- als auch als Entwicklungs-Modell verfügbar und eignet sich für die Design-Evaluierung, Frontend- und Backend-Messungen, Fehler-Analyse, Package-Verifikation und die Abnahmeprüfung von Bauteilen.

Streulichtkorrigierte Kalibrierung von Array-Spektrometern

07. Dezember 2015 - Instrument Systems kann als erstes Unternehmen dem breiten Markt eine Streulichtkorrektur seiner Array-Spektrometer als optionale Ergänzung bei der Gerätekalibrierung anbieten. Durch Einbindung einer Streulichtkorrekturmatrix in den Kalibriervorgang gelingt es, das Streulicht während der Messung um eine Größenordnung auf bis zu 10-5 zu unterdrücken. Eine 10% höhere Sensitivität im UV-Bereich nach der streulichtkorrigierten Kalibrierung führt zu einer um 3-4 % höheren Genauigkeit bei der Messung radiometrischer Werte.

Prüfsystem für Leitungsschutzschalter und weitere Komponenten

Spitzenberger LSS 12. November 2015 - Spitzenberger & Spies präsentiert auf der Productronica zwei neue Prüfsysteme: ein automatisiertes Schutzschalter Prüfsystem mit pneumatischer Adaptierung sowie ein Schutzschalter-Prüfplatz für Alterungsprüfungen mit Multi Terminal Adaptierung. Die vom System abgedeckten Prüfvorschriften sind unter anderem die EN 60947-1, EN 60947-7-1, VDE 0660-100 und die EN 60898-2. Ein optionales Sicherheitssystem gemäß EN 61010-1 fügt sich nahtlos in die Sicherheitsbestimmungen vieler Produktionsbereiche ein.

Produktionstester für Sensoren, Analog- und Mixed-Signal-ICs

Advantest EVA100 P Model 09. November 2015 – Advantest stellt ein Produktionstest-Modell seines EVA100 Messsystems vor. Das System wurde speziell für die Serienproduktion von Sensoren sowie Analog- und Mixed-Signal ICs mit wenigen Pins entwickelt und für einen hohen Durchsatz optimiert. Es ist zum ersten EVA100 System, das im letzten Jahr vorgestellt wurde, voll kompatibel. Das neue Produktionsmodell erlaubt die Einrichtung einer standardisierten Messumgebung von der Design-Evaluierung bis zur Produktion, wodurch sich die Time-to-Market der Produkte drastisch verkürzen lässt.

Terahertz-Analyse-System für hochauflösende Fehlererkennung in ICs

Advantest TS9000TDR Option 04. November 2015 – Advantest bietet eine neue TDR-Option für die Terahertz-Analyse-Systeme der Serie TS9000 an. Mit Hilfe von kurzen Terahertz-Pulsen lässt sich die Qualität der Schaltung in Halbleitern, gedruckten Substraten, Elektronikbauteilen und anderen Anwendungen analysieren. Die TS9000 TDR Option nutzt die bewährte Advantest TDT/TDR-Messtechnologie zur punktgenauen Lokalisierung von Schaltungsfehlern anhand der Verarbeitung kurzer Impulssignale. Die Technologie erlaubt Schaltkreisanalysen mit einer äußerst hohen räumlichen Präzision von weniger als 5 μm und bietet einen maximalen Messbereich von 300 mm.

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