News - Bauteil-/Halbleiter-Test

Streulichtkorrigierte Kalibrierung von Array-Spektrometern

07. Dezember 2015 - Instrument Systems kann als erstes Unternehmen dem breiten Markt eine Streulichtkorrektur seiner Array-Spektrometer als optionale Ergänzung bei der Gerätekalibrierung anbieten. Durch Einbindung einer Streulichtkorrekturmatrix in den Kalibriervorgang gelingt es, das Streulicht während der Messung um eine Größenordnung auf bis zu 10-5 zu unterdrücken. Eine 10% höhere Sensitivität im UV-Bereich nach der streulichtkorrigierten Kalibrierung führt zu einer um 3-4 % höheren Genauigkeit bei der Messung radiometrischer Werte.

Prüfsystem für Leitungsschutzschalter und weitere Komponenten

Spitzenberger LSS 12. November 2015 - Spitzenberger & Spies präsentiert auf der Productronica zwei neue Prüfsysteme: ein automatisiertes Schutzschalter Prüfsystem mit pneumatischer Adaptierung sowie ein Schutzschalter-Prüfplatz für Alterungsprüfungen mit Multi Terminal Adaptierung. Die vom System abgedeckten Prüfvorschriften sind unter anderem die EN 60947-1, EN 60947-7-1, VDE 0660-100 und die EN 60898-2. Ein optionales Sicherheitssystem gemäß EN 61010-1 fügt sich nahtlos in die Sicherheitsbestimmungen vieler Produktionsbereiche ein.

Produktionstester für Sensoren, Analog- und Mixed-Signal-ICs

Advantest EVA100 P Model 09. November 2015 – Advantest stellt ein Produktionstest-Modell seines EVA100 Messsystems vor. Das System wurde speziell für die Serienproduktion von Sensoren sowie Analog- und Mixed-Signal ICs mit wenigen Pins entwickelt und für einen hohen Durchsatz optimiert. Es ist zum ersten EVA100 System, das im letzten Jahr vorgestellt wurde, voll kompatibel. Das neue Produktionsmodell erlaubt die Einrichtung einer standardisierten Messumgebung von der Design-Evaluierung bis zur Produktion, wodurch sich die Time-to-Market der Produkte drastisch verkürzen lässt.

Terahertz-Analyse-System für hochauflösende Fehlererkennung in ICs

Advantest TS9000TDR Option 04. November 2015 – Advantest bietet eine neue TDR-Option für die Terahertz-Analyse-Systeme der Serie TS9000 an. Mit Hilfe von kurzen Terahertz-Pulsen lässt sich die Qualität der Schaltung in Halbleitern, gedruckten Substraten, Elektronikbauteilen und anderen Anwendungen analysieren. Die TS9000 TDR Option nutzt die bewährte Advantest TDT/TDR-Messtechnologie zur punktgenauen Lokalisierung von Schaltungsfehlern anhand der Verarbeitung kurzer Impulssignale. Die Technologie erlaubt Schaltkreisanalysen mit einer äußerst hohen räumlichen Präzision von weniger als 5 μm und bietet einen maximalen Messbereich von 300 mm.

Skalare Transmissionsmessungen für Kabel und Filter

Anritsu MS46121A2 22. Oktober 2015 – Anritsu bietet für seine PC-gesteuerten Eintor-USB-Vektornetzwerkanalysatoren (VNAs) der MS46121A-Baureihe aus der ShockLine-Familie eine neue Funktion für skalare Transmissionsmessungen an. Mit dieser Option können mit mehreren MS46121A VNAs in einer One-to-One (1:1)- oder in einer One-to-Many (1:n)-Konfiguration vektorkorrigierte Reflektionsmessungen am jeweiligen Stimulusport und skalare Transmissionsmessungen zu einem der übrigen Ports durchgeführt werden. Dies ermöglicht damit erstmals einfache und preiswerte Transmissionsmessungen für eine Vielzahl von Anwendungen.

Testsockel für Halbleitertest, HAST, HTOL und Ausfallanalyse

Yamaichi 0.35mm TestContactor 05. Oktober 2015 – Yamaichi Electronics stellt Test Contactoren (Prüfsockel) für Labor- und Zuverlässigkeitstests sowie für Halbleiterbauelemente mit 0,35 mm Rastermaß (Pitch) vor. Dieses Kontaktrastermaß wird bei neuen Halbleiterbauelementen wie z.B. CSPs auf Wafer-Ebene für mobile Geräte verwendet. Für den Test derartiger Bauelemente hat Yamaichi Electronics in Europa (Zentrale in München) die Test Contactoren der Baureihen YED254 und YED274 entwickelt.

Test von Speicher-ICs mit Datenraten von bis zu 16 Gbps

24. August 2015 – Advantest hat mit der HSM16G die bisher schnellste voll integrierte Memory-Testkarte vorgestellt. Die neue Karte erweitert die High-Speed-Testfunktionen der Advantest V93000 HSM Tester für einen At-Speed-Test von ultraschnellen Memory-ICs auf bis zu 16 Gigabit pro Sekunde (Gbps) . Durch diese neue Produktvorstellung ist Advantest der erste Anbieter von automatischen Testsystemen (ATE), der eine integrierte Testlösung für die Bauteil-Entwicklung, das Debugging und die Volumen-Produktion der heute schnellsten GDDR5 und künftigen GDDR5X ICs mit parallelen Datenbussen mit bis zu 16 Gbps anbieten kann.

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