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Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Bauteil-/Halbleiter-TestParametrisches Testsystem für Halbleiterchip-Produktion05. Oktober 2021 - Tektronix stellt die neue Software-Version KTE V7.1 für das parametrische Testsystem der Serie S530 von Keithley vor und beschleunigt durch neue Fuktionen die Herstellung von Halbleiterchips. Zu den neuen, mit der Version KTE V7.1 erstmals verfügbaren Optionen zählen eine neue Paralleltestfunktion sowie eine innovative Hochspannungs-Kapazitäts-Testoption für neue Leistungs- und Wide-Bandgap-Anwendungen. KTE V7.1 verkürzt die Testzeiten gegenüber KTE V5.8 um mehr als 10 Prozent. Optimierung dynamischer parametrischer Halbleitertests01. Oktober 2021 - Advantest und PDF Solutions haben ihre erste gemeinsam entwickelte Lösung seit der Gründung ihrer Partnerschaft im Juli 2020 präsentiert. Das neue Advantest Cloud Solutions (ACS) „Dynamic Parametric Test (DPT) powered by PDF Exensio“ Produkt wird bereits von einem großen Halbleiterhersteller in der Fertigung eingesetzt. ACS ist eine hochsichere, skalierbare Datenplattform, die ein offenes Lösungsökosystem ermöglicht. Es unterstützt unsere Kunden bei der Bewältigung ihrer derzeit größten Herausforderungen im Umgang mit einer intelligenten Fertigungsumgebung. One-Stop-Testlösung für Silizium-Photonik-Wafer-Produktion15. September 2021 – Keysight Technologies hat das neue Silizium-Photonik-Testsystem NX5402A vorgestellt. Die Lösung ermöglicht einen schnellen Start der Serienproduktion mit Stabilität und Reproduzierbarkeit. Das System enthält u.a. die Softwaretechnologie Keysight PathWave Semiconductor Test (Teil der Keysight PathWave Test Software). Die Lösung ermöglicht einen schnellen Start der Serienproduktion mit Stabilität und Reproduzierbarkeit. Die Halbleiterhersteller können damit die Produktion von Silizium-Photonik-Wafern beschleunigen. Flying-Probe-Tester für Batteriemodule04. August 2021 - Seica hat die Flying-Probe-Testsysteme der PILOT BT Serie speziell für den Test von EV-Lithium-Ionen-Batteriepacks voller Größe entwickelt. Die Tester können mit maximaler Genauigkeit die Verbindungen (Bondwiderstand) der im Batteriemodul vorhandenen prismatischen und zylindrischen Zellen prüfen. Batteriesimulatoren ermöglichen Tiefentladen bei vollem Strom29. Juli 2021 - Die Batteriesimulatoren der ERS-BIC-Serie von Heinzinger gibt es jetzt nicht nur mit 180 % Überlastfunktion, sondern auch mit einer 0-Volt-Option. Abuse-Tests, das Recyceln von Batterien und Anwendungen in der Brennstoffzellen-Entwicklung, erfordern das Entladen und Rückspeisen von Energie bis nahezu 0 V. Herkömmliche bidirektionale Netzteile stoßen dabei, aufgrund ihrer Topologie, früher oder später an ihre Grenzen und haben dadurch einen eingeschränkten Arbeitsbereich. Innovative High-Speed-Scan und Software-basierte Funktionstests30. Juni 2021 - Advantest testet in einem Pilotprojekt auf der V93000 Plattform eine neuartige innovative Methodik. Der Lösungsansatz nutzt die vorhandenen seriellen Hochgeschwindigkeits-I/O-Schnittstellen auf modernen integrierten Schaltungen (ICs) zur Durchführung von Scan-Tests und softwaregesteuerten Funktionstests von Halbleitern. Damit korrelieren Scan-Testergebnisse zwischen etablierten und neuen Testroutinen. Die On-Chip-Testsoftware wird gebootet und ausgeführt. Ein nahtloser Datenfluss von Ende zu Ende wird in Verbindung mit Advantest‘ s Partnerfirmen in der elektronischen Designautomatisierung (EDA) gewährleistet. Batteriezellenmessung für High-Power-Rundzellentests bis 63 A09. Juni 2021 - Das Ingenieurbüro Koch ist seit vielen Jahren auf Ausrüstung für Batteriezellentests spezialisiert. Die modular konzipierten Koch-Testadaptersysteme sind auf alle Umgebungen und Anforderungen an Batterietest-Lösungen vorbereitet. Neu im Portfolio ist seit kurzem die High-Power Version der Koch-Testadapter. Mit dieser können auch die neuen, großen Rundzellen mit bis zu 120 mm Länge und 46 mm Durchmesser einzeln oder parallel im Messschrank sicher und präzise getestet werden. Die Kontaktierung der Zellen erfolgt über gefederte Kontakte aus vergoldetem Berillyum-Kupfer. Weitere Beiträge ...
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