|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsProgrammier- und Teststrategien für kleine Mikrocontroller-basierte Baugruppen28. September 2012 - Kleine Baugruppen mit einem In-System programmierbaren (ISP) Mikrocontroller und zusätzlichem Speicher sind mittlerweile in unzähligen Industrie- und Consumer-Anwendungen zu finden, vom Toaster, über SmartMeter, bis hin zu Spielzeug und implantierbaren medizinischen Geräten. Dies ist hauptsächlich auf ihre geringen Kosten, hohe Programmier-Flexibilität und Einsetzbarkeit für vielfältige Aufgaben als Sensoren, Aktuatoren und Controller zurückzuführen. Damit sind flexible Teststrategien erforderlich. Wassergekühlte DC-Stromversorgungen von 10 bis 30 kW28. September 2012 - Die neue ASD-Serie von AMETEK Programmable Power umfasst wassergekühlte DC-Stromversorgungen mit Leistungen von 10 kW, 20 kW und 30 kW. Zwölf Modelle mit 0-40 V bzw. 0-60 V sowie mit analoger oder digitaler Steuerung sind ab sofort erhältlich. Der Vertrieb erfolgt exklusiv über den Münchner Stromversorgungsspezialisten CompuMess Elektronik GmbH (CME). National Instruments präsentiert zwei neue Erweiterungschassis für NI CompactRIO27. September 2012 - Die Produktfamilie NI CompactRIO wurde um zwei neue Chassis für I/O-Module der C-Serie von NI ergänzt. Das MXI-Express-RIO-Erweiterungschassis NI 9154 mit acht Steckplätzen wurde für Anwendungen entwickelt, in denen eine hohe Kanalanzahl, erhöhter Datendurchsatz sowie benutzerdefinierte Signalverarbeitung, Steuerung und Regelung erforderlich sind, wie Rapid Control Prototyping, Hardware-in-the-Loop-Tests und komplexe Forschungsaufgaben. Universell einsetzbare USB-Messmodule26. September 2012 - Meilhaus Electronic stellt zwei neue Messmodule seiner Mini-USB-Messboxen der Serie RedLab vor. Diese umfasst verschiedene Varianten von Mess- und Steuer-Boxen für USB. Mit einer Auflösung von 16 Bit setzt das jetzt neu vorgestellte Modul RedLab 1608GX-2AO auf hohe Genauigkeit und Störsicherheit. Es bietet 16 single-ended oder 8 differentielle Analog-Eingänge mit einer max. Abtastrate von 500 kS/s (gemultiplext). Audiosignale mit dem Oszilloskop analysieren26. September 2012 - Eine neue Software-Option zum High-Performance-Oszilloskop R&S RTO von Rohde & Schwarz bietet umfangreiche Analysemöglichkeiten für Audioschnittstellen. Zum Einsatz kommt die neue Option bei den seriellen Busse I2S, LJ, RJ und TDM, die als unidirektionale Punkt-zu-Punktverbindungen digitale Audiodaten zwischen ICs übertragen. Diese werden zum Beispiel zur Anbindung von Analog-Digital-Umsetzern und Digital-Analog-Umsetzern an digitale Signalprozessoren (DSP) verwendet. 3D-Bildverarbeitung für NI LabVIEW25. September 2012 - National Instruments stellt mit dem neuen NI Vision Development Module 2012 eine Funktionalität für die 3D-Bildverarbeitung in NI LabVIEW vor. Mit Hilfe von zwei beliebigen Kameras lässt sich ein 3D-Stereobildverarbeitungssystem entwickeln und anspruchsvolle Prüf- und Steuerungsanwendungen durchführen, in denen mittels 3D-Bildverarbeitungstechnologie gewonnene Tiefeninformationen genutzt werden. Außerdem können Hard- und Softwarewerkzeuge von Drittanbietern für die 3D-Bildverarbeitung eingesetzt werden. Prozesse flexibel automatisiert und kontrolliert durchführen25. September 2012 - Mit der SPM 1000 Stand-Alone Process Machine stellt die IPTE Factory Automation (FA) ein flexibles Konzept für eine Produktionszelle vor. Mit der SPM 1000 lassen sich viele Prozesse qualitativ hochwertig standardisieren, automatisiert und kontrolliert durchführen sowie dokumentieren. Die Zelle verfügt über ein Linear-Achsensystem (X/Y) sowie eine Spindelachse (Z). Zur Werkstückaufnahme dient ein Rundschaltteller mit zwei Basis-Aufnahmen. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
|
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |