|
||||
Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
HauptmenüNewsletter abonnierenNews-BereichInfo-BereichWeblinksMarktübersichten |
Top 5 News der letzten 30 Tage
News - Baugruppen- und System-TestNeuer Präzisions-Leistungsanalysator mit innovativen Messfunktionen17. Februar 2011 - Der Präzisions-Leistungsanalysator WT1800 ist die neueste Entwicklung von Yokogawa in der Produktreihe Leistungsmessgeräte. Der neue Poweranalysator beinhaltet bis zu sechs Leistungsmodule, so dass z.B. zwei dreiphasige Systeme wie Eingang und Ausgang von Umrichtern zur Wirkungsgradmessung angeschlossen werden können. Ein hochauflösendes 8,4" Farbdisplay stellt numerische, grafische, spektrale und vektorielle Daten dar. Rohde & Schwarz zeigt komplettes Messtechnikportfolio für LTE-Rollout16. Februar 2011 - Rohde & Schwarz präsentiert auf dem Mobile World Congress in Barcelona die passende Messtechnik für den neuen Mobilfunkstandard LTE. In Europa, den USA und in Asien starten derzeit die ersten Netze für LTE-FDD und TD-LTE. Um den neuen Mobilfunkstandards zügig zum Durchbruch zu verhelfen, ist unter anderem entsprechende Messtechnik für die Entwicklung und Produktion von Chipsets, Endgeräten und Infrastruktur sowie für Planung, Aufbau und Überwachung der Netze erforderlich. Neue Software für hochauflösende GE Röntgeninspektionssysteme14. Februar 2011 - GE Measurement & Control Solutions stellt die neue Inspektionssoftware phoenix x|act: für alle hochauflösenden Röntgensysteme sowie vor. Dieses neue leistungsstarke Softwarepaket ersetzt die bisherige phoenix quality|assurance Software und kann sowohl für die manuelle Inspektion als auch für die vollautomatische, CAD-basierte Röntgeninspektion von Lötstellen in elektronischen Bauteilen verwendet werden. HF-Testsystem zur schnellen Charakterisierung von Radarmodulen11. Februar 2011 - Herstellern von AESA-Radaren bietet Rohde & Schwarz mit dem neuen R&S TS6710 eine schlüsselfertige Standardlösung, die zugleich hoch flexibel ist. Durch sein modulares Konzept lässt sich das Testsystem für die Entwicklung wie auch für die Fertigung konfigurieren. Vordefinierte Testfälle und die einfache Zusammenstellung von kompletten Testabläufen erleichtern die Handhabung erheblich. Sind spezielle Kundeninteressen zu beachten, kann der Anwender alle Testfälle individuell anpassen. Echtzeitanalyse im absoluten Nahfeld08. Februar 2011 - EMCO Elektronik GmbH hat Ihr Portfolio um die Produkte der Firma EMSCAN erweitert. EMSCAN, mit Sitz in Kanada, ist Hersteller von elektromagnetischen Scannern zur Echtzeitanalyse im absoluten Nahfeld. Durch die platzsparenden Tischgeräte lassen sich Analysen im Entwicklungsbereich schnell und kosteneffektiv durchführen. Schnelle und zuverlässige optische Inspektion der Baugruppenunterseite31. Januar 2011 - Das Inspektionssystem S3016 von Viscom ist speziell für die Inspektion der Baugruppenunterseite ausgelegt. Dieses Inspektionskonzept kommt insbesondere bei THT- oder Selektivlötstellen sowie bei wellengelöteten Bauteilen im Lötrahmen zum Einsatz. Mit dem Inspektionssystem S3016 kann die Leiterplattenunterseite auch dort zuverlässig überprüft werden, wo eine schwere Baugruppe nicht gedreht werden kann oder man den Lötrahmen nicht ausreichend stabil klemmen kann. Ein anderer Grund für die Prüfung von unten ist der Wunsch, direkt nach dem Wellenlöten inline zu prüfen und die Kosten einer Flipstation ganz einzusparen. Vielkanalige, zeitsynchrone Spannungsmessung26. Januar 2011 - Mit der MCM-U08AII Baugruppe ergänzt die SMART GmbH ihre MCM-Familie um eine 8-kanaliges Spannungsmessmodul. Mit der Baugruppe können Gleichspannungen von bis zu 100 V gemessen werden. Die acht Kanäle sind alle galvanisch voneinander entkoppelt. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema: |
Aktuelle Termine Weitere Veranstaltungen...
Tag CloudBoundary Scan
* JTAG
* Funktionstest
* Oszilloskop
* AOI-Test
* PXI
* Automotive
* EMV-Messtechnik
* Inspektion
* Röntgeninspektion
* In-Circuit-Test
* Batterietest
* LXI
* Stromversorgung
* Flying
* Photovoltaik
* LTE
* CAN
* Solarzellen
* Handheld
* Netzwerkanalysator
* Emulation
* ICT
* SPI
* Schaltmodul
* Leistungsmessung
* Spektrumanalysator
* FlexRay
* USB
* Traceability
* Manufacturing Execution System
* Testadapter
* Flying Prober
* Steuergerät
* |
||
© All about Test seit 2009 |