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Nachrichten und Informationen zu Test- und Messtechnik für Elektronik in Entwicklung, Produktion und Service. | ||||
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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-News
Mobiler Messempfänger für Emissionsmessungen18. Februar 2014 - Die neuste Produktfamilie TDEMI M von GAUSS INSTRUMENTS ist durch den kompakten Aufbau sowie vielfältige Funktionalität sowohl perfekt für den mobilen Einsatz im Freien als auch für die Entwicklung im Labor geeignet. Durch die standardmäßige Versorgung mit +12V können die Geräte direkt an Bord von Kraftfahrzeugen, Flugzeugen o.ä. eingesetzt werden.
Digitale Vorverzerrung vereinfacht Envelope Tracking-Verstärkertests17. Februar 2014 — Mit der neuen Digital Predistortion-Option R&S SMW-K541 von Rohde & Schwarz können Anwender Tabellen mit Vorverzerrungs-Koeffizienten direkt in den R&S SMW200A laden. Der Signalgenerator verrechnet diese Delta-Werte in Echtzeit mit dem Basisbandsignal. Mit der Option lassen sich Testzeiten deutlich reduzieren, da die vorverzerrten Waveforms nicht mehr langwierig neuberechnet und in den Generator geladen werden müssen.
Timing-Fehler in fehlerhaften Modellspezifikationen erkennen14. Februar 2014 - Die AbsInt Angewandte Informatik GmbH ist neuer Kooperationspartner der dSPACE GmbH und Mitglied im TargetLink Partnerprogramm. Ziel der Zusammenarbeit ist die Toolkopplung der AbsInt-Analysetools aiT, StackAnalyzer und Astrée mit dem Seriencode-Generator dSPACE TargetLink. Dadurch können Timing-Fehler, Stacküberläufe und Laufzeitfehler, die auf fehlerhaften Modellspezifikationen basieren, direkt aus dem TargetLink-Modell heraus analysiert und somit bereits in frühen Entwicklungsphasen sicher erkannt werden.
5. Technologietag „Baugruppentest“ in Weimar14. Februar 2014 - National Instruments und GÖPEL electronic laden auch in diesem Jahr Ingenieure und Techniker aus verschiedenen Bereichen der Elektronikindustrie – von Design und Produktion über Qualitätssicherung bis hin zur Applikation – zu einem Technologietag ein, bei dem das Thema „Baugruppentest“ im Fokus steht. Die Veranstaltung findet am 19. März 2014 im Dorint Hotel am Goethepark in Weimar statt.
Testlösung für DDR4- und LPDDR4-Speicher-Chips13. Februar 2014 - Advantest stellt eine neue Testlösung für Speicher-ICs der nächsten Generation vor, die in aktuellen mobilen Geräten und Servern eingesetzt werden. Das neue T5503HS bietet hoch parallele Testmöglichkeiten und eignet sich als voll kompatible Erweiterung für die weit verbreitete Advantest Testplattform T5503. Es zeichnet sich durch führende Leistung, hohe Produktivität und niedrige Testkosten sowie einfache Erweiterbarkeit aus.
Microlease erhält Auszeichnung von Frost & Sullivan für „hervorragende Wachstumsstrategie“13. Februar 2014 - Microlease, ein Anbieter von Miet- und Leasingservices sowie Asset-Mangement-Lösungen für Testequipment, erhält von der führenden Marktforschungs- und Marktanalyseorganisation Frost & Sullivan den „2013 Global Company of the Year Award“ für Miet- und Leasing-Dienstleistungen rund um Test- und Messtechnik. Die Entscheidung zur Vergabe des Awards basiert auf den Ergebnissen der bewährten TEAM Research-Methode von Frost & Sullivan.
Neues Modul für die Boundary Scan Erweiterung IEEE P168712. Februar 2014 – JTAG Technologies zeigt auf der Embedded World in Nürnberg in Halle 4, Stand 619 ein neues Modul für die Boundary Scan Erweiterung IEEE P1687. Der neue IEEE P1687 Standard (IJTAG - Internal JTAG) wurde als evolutionäre Erweiterung der Basis-Standards IEEE 1149.1 und IEEE 1500 entwickelt und beschreibt den Zugriff auf in ein Bauteil oder SoC (System-on-Chip)integrierte Embedded (Test) Instrumente über den konventionellen 4/5-Draht-JTAG-Port. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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