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Top 5 News der letzten 30 Tage
Aktuelle Test- und Messtechnik-NewsHigh-End-Vektorsignalgenerator erzeugt komplexe Mehrkanal-Szenarien29. April 2013 - Der neue High-End-Vektorsignalgenerator R&S SMW200A von Rohde & Schwarz kombiniert Basisband-Generator, HF-Generator und MIMO-Fading-Simulator in einem Gerät. Er deckt den Frequenzbereich von 100 kHz bis 3 GHz oder 6 GHz ab und verfügt über eine interne Basisbandsektion mit einer I/Q-Modulationsbandbreite von 160 MHz. Mit seinen hervorragenden Modulations- und HF-Eigenschaften ist er ideal für die Entwicklung hochwertiger Komponenten, Module oder kompletter Produkte für breitbandige Kommunikationssysteme wie LTE-Advanced oder WLAN IEEE 802.11ac. Überprüfung von E-Mobility-Ladestationen bei Inbetriebnahme und Wartung26. April 2013 - Nach der Installation einer Ladeeinrichtung für Elektrofahrzeuge oder im Servicefall müssen die Funktionen der Lademöglichkeit überprüft werden. Die von den Walther-Werken entwickelten EV-Tester simulieren ein Elektrofahrzeug am Ladepunkt, so dass die Reaktion der Ladeeinrichtung inklusive Ladeleitung ohne Fahrzeug getestet und Messungen durchgeführt werden können. Desktop-Tester für Embedded System Access26. April 2013 – GÖPEL electronic stellt eine Reihe neuer Features für die Desktop-Tester der JULIET-Familie vor. Die Systeme unterstützen nun auch sämtliche Embedded System Access (ESA) Technologien zur High-Speed In-System-Programmierung von Flash, PLD und MCU, sowie zum strukturellen und funktionalen At-Speed-Boardtest. Dazu gehören neben dem traditionellen Boundary-Scan-Verfahren auch Strategien wie Prozessor-Emulation auf Basis VarioTAP oder Chip Embedded Instruments auf Basis der ChipVORX-Technologie. Charakterisierung von Leistungshalbleitern auf Wafer-Ebene25. April 2013 - Keithley Instruments hat seine Automated Characterization Suite (ACS) Software mit einer Unterstützung für die Charakterisierung von Leistungshalbleitern erweitert. Die ACS-Testumgebung wurde speziell für automatische Parameter-Testanwendungen auf Wafer-Ebene entwickelt, wie die automatische Charakterisierung, Zuverlässigkeitsanalyse und den Known-Good-Die-Test. NI VeriStand mit erweitertem Funktionsumfang25. April 2013 – National Instruments erweitert VeriStand um neue Funktionen für das effiziente Konfigurieren und Ausführen von Echtzeit-Testanwendungen wie Hardware-in-the-Loop(HIL)-Simulatoren sowie Steuer-, Regel- und Überwachungssysteme für Prüfzellen. Mit der neuen Version von NI VeriStand können Anwender Daten mit deutlich höheren Geschwindigkeiten erfassen und analysieren. Außerdem können sie mithilfe neuer Werkzeuge Messungen skalieren, kalibrieren und um Signalkonditionierung ergänzen, um die Genauigkeit sicherzustellen und die Testqualität zu verbessern. Überwachung von Videosignalen und Lautheit an HDMI-HDCP-Ausgängen24. April 2013 - Tektronix erweitert seine Produktreihe der Waveform-Monitore und Rasterizer mit den neuen WFM und WVR5250 Modellen. Dies sind die derzeit einzigen Geräte ihrer Klasse, die über HDMI-HDCP-Eingänge verfügen, so dass Sendeanstalten, Netzbetreiber und Gerätehersteller erstmals die Qualität der Video- und Audioausgänge von Set-Top-Boxen (STB) und Blu-ray-Playern direkt überwachen können. MEK stellt neue Generation von AOI-Systemen vor24. April 2013 - MEK hat eine völlig neue Generation von AOI-Systemen vorgestellt und das Produktporfolio um 4 neue Desktop- und 3 neue Inline-AOI-Systeme erweitert. Die PowerSpector Serie wurde in den Bereichen Mechanik, Kamera-, Sensor- und Softwaretechnologie überarbeitet. Die Leistung konnte deutlich gesteigert und neue Maßstäbe hinsichtlich Geschwindigkeit, Präzision und Prüfstrategie gesetzt werden. Weitere Beiträge ...
Weitere News zum Thema:Englische Meldungen von www.All-about-Test.eu
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